7月12日，我校分析测试中心成功举办了技术论坛系列讲座第一讲。本次讲座由谢九龙副教授主讲，以“计算机断层扫描技术（CT）在植物组织结构研究中的应用”为主题，学校植物学科领域的相关师生参与了研讨。

讲座过程中，谢九龙通过生动详实的案例分析直观展示了计算机断层扫描技术在植物研究领域中的多项实际应用效果。仪器具有二维和三维扫描形式，能够同时满足宏观与微观层面的研究需求，为科研提供直观、详尽的数据支持。仪器亮点丰富，不破坏样品，建模精准，兼具微米级分辨率，操作简便且高效，为推动我校相关领域科学研究的稳步发展提供助力。

讲座反响热烈，师生们纷纷表示，此次讲座不仅拓宽了他们的学术视野，也激发了他们对该领域研究的浓厚兴趣，并对CT技术在植物研究中的应用前景充满期待。

据悉，提供分析测试技术交流与培训服务是分析测试中心的重要职能，分析测试技术论坛旨在培养研究生分析测试技术能力，提升实验技术人员技术服务水平，中心今后还将积极筹办系列此类学术交流活动。